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第三章 单元测试

1、判断题：
X射线衍射法测定结晶度是通过测定样品中晶相与非晶相的衍射方位来实现的
选项：
A:错
B:对
答案:

2、判断题：
非晶物质的衍射图由少数漫散峰组成
选项：
A:对
B:错
答案:

3、判断题：
脉冲高度分析器可以剔除那些对衍射分析不需要的干扰脉冲，从而达到降低背底和提高峰背比的作用
选项：
A:错
B:对
答案:

4、多选题：
X射线衍射方法有哪些？
选项：
A:周转晶体法
B:粉末法
C:劳埃法
D:布拉格法
答案:

5、多选题：
X射线衍射仪常规测量中衍射强度的测量方法有哪些？
选项：
A:间歇扫描
B:快速扫描
C:连续扫描
D:步进扫描
答案:

6、多选题：
德拜相机底片安装方法有哪些？
选项：
A:反装法
B:正装法
C:斜装法
D:偏装法
答案:

第四章 单元测试

1、单选题：
用爱瓦尔德球图解说明电子衍射过程中，以下错误的是（  ）。
选项：
A:k是衍射波的波矢量
B:

是倒易原点

C:O是爱瓦尔德球的球心
D:倒易阵点G落在爱瓦尔德球的球面上
答案:

2、多选题：
关于电子衍射与X射线衍射的说法，以下正确的是（  ）。
选项：
A:二者采用的光源是一致的
B:X射线的衍射角相对较大
C:电子衍射的反射球半径小
D:电子衍射的散射能力高
答案:

3、判断题：
晶体正空间中的点阵晶面对应倒易空间中的点。
选项：
A:错
B:对
答案:

4、判断题：
调节中间镜使中间镜的物平面和物镜的像平面重合，实现电子衍射操作。
选项：
A:对
B:错
答案:

5、单选题：
零层倒易面上的各倒易矢量ghkl的方向和正空间中相应晶面的法向之间的关系是        。
选项：
A:垂直
B:平行
C:交叉
D:重合
答案:

6、多选题：
体心立方晶体的衍射条件和消光条件分别是        和        。
选项：
A:（H+K+L）偶数
B:H、K、L同性数
C:（H+K）偶数
D:（H+K+L）奇数
答案:

7、判断题：
零层倒易面的法线和正空间中的晶带轴[uvw]是垂直的关系。
选项：
A:错
B:对
答案:

8、判断题：
零层倒易面上的各倒易矢量都和晶带轴r=[uvw]垂直（⊥r）
选项：
A:错
B:对
答案:

9、单选题：
当入射束不严格满足布拉格方程的时候，衍射情况应该是        。
选项：
A:产生强衍射束
B:产生弱衍射束
C:不产生衍射
答案:

10、单选题：
薄晶体样品应该用        来获得满意的图像反差。
选项：
A:相位衬度
B:质厚衬度
C:衍射衬度
D:振幅衬度
答案:

11、多选题：
关于中心暗场成像，以下说法正确的是        。
选项：
A:利用衍射束得到图像衬度
B:透射束被挡掉
C:用于成像的是离轴光线
D:入射电子束方向倾斜2θ
答案:

12、判断题：
入射束与试样内各晶面相对位向不同不会造成衍射强度的明显差异。
选项：
A:错
B:对
答案:

13、判断题：
衬度是显微图像中不同区域的明暗差别
选项：
A:对
B:错
答案:

14、单选题：
用以实现透射电镜成像操作和电子衍射操作的转换的是        。
选项：
A:投影镜
B:中间镜
C:物镜
D:聚光镜
答案:

15、多选题：
入射电子束穿过样品经物镜聚焦成像， 在        上形成衍射花样，在       上形成显微图像。
选项：
A:物镜背焦面
B:物镜后焦面
C:像平面
D:荧光屏
答案:

16、判断题：
场发射电子枪比热发射电子枪亮度更高，束斑尺寸更小，电子束相干性更好。
选项：
A:错
B:对
答案:

17、判断题：
投影镜是用来形成第一幅高分辨电子显微图像或电子衍射花样。
选项：
A:对
B:错
答案:

18、单选题：
选区光阑应该加在什么位置以实现选取电子衍射操作？
选项：
A:物镜的像平面
B:样品上
C:物镜的背焦面
D:物镜的后焦面
答案:

19、多选题：
关于选区电子衍射操作的说法正确的是        。
选项：
A:可以实现晶体结构分析
B:可以实现组织形貌观察
C:物镜的像平面和中间镜的物平面都必须和选区光阑的位置齐平
D:选区光阑的水平位置在电镜中是可以调整的的
答案:

20、判断题：
在物镜像平面上插入选区光阑可以实现选区电子衍射操作。
选项：
A:错
B:对
答案:

21、判断题：
选区电子衍射操作需要先把透射电镜切换到电子衍射模式。
选项：
A:错
B:对
答案:

22、单选题：
实现入射电子束平移和倾斜的装置是        。
选项：
A:物镜光阑
B:消像散器
C:电磁偏转器
D:极靴
答案:

23、多选题：
以下哪些可以用来搭载样品？
选项：
A:碳支持膜
B:载网支持膜
C:铜网
D:微栅膜
答案:

24、判断题：
消像散器形成的矫正磁场在强度上可调，在方位上不可调。
选项：
A:对
B:错
答案:

25、判断题：
物镜光阑通常安装在物镜的背焦面上。
选项：
A:对
B:错
答案:

26、单选题：
关于化学抛光减薄法，以下说法错误的是（ ）。
选项：
A:表面没有机械硬化层
B:属于最终减薄
C:大部分控制在20~50μm的厚度
D:利用化学试剂腐蚀减薄样品
答案:

27、判断题：
电子束对薄膜样品的穿透能力和加速电压无关。
选项：
A:错
B:对
答案:

28、多选题：
透射电子显微操作中，对于样品的要求以下说法正确的是（ ）。
选项：
A:表面效应可忽略
B:强度和刚度不做要求
C:杜绝腐蚀和氧化
D:组织结构能够代表大块样品
答案:

29、判断题：
电火花切割法只能用于导电样品。
选项：
A:错
B:对
答案:

30、单选题：
计算晶带轴指数的基本原理是（  ）。
选项：
A:结构消光原理
B:电子衍射基本公式
C:矢量运算
D:晶带定理
答案:

31、多选题：
关于标准电子衍射花样，以下说法正确的是（  ）。
选项：
A:是经过实际观察、记录得到衍射花样
B:可以利用其进行衍射花样标定
C:可以根据晶带定理和消光规律绘出
D:各晶体点阵主要晶带的倒易截面
答案:

32、判断题：
测量衍射斑点间距时，应该测量靠近中心斑点的几个衍射斑点至中心斑点的距离。
选项：
A:对
B:错
答案:

33、判断题：
未知晶体结构衍射花样标定时，应该在几个不同的方位摄取衍射花样，测低指数斑点的R值。
选项：
A:对
B:错
答案:

34、多选题：
关于超点阵斑点，以下说法正确的是（  ）。
选项：
A:在一定条件下才能产生
B:可能会改变原有晶体的衍射花样
C:会给分析和标定带来方便
D:可以提供更多的结构信息
答案:

35、判断题：
当晶体内部的原子或离子产生有规律的位移或不同原子产生有序排列时，有可能使本来消光的斑点出现，衍射花样中也将出现相应的额外斑点。
选项：
A:对
B:错
答案:

36、判断题：
超点阵斑点一般出现在无序固溶体禁止反射的位置，强度一般较高。
选项：
A:错
B:对
答案:

37、单选题：
关于高分辨透射电子显微术，以下说法错误的是（  ）。
选项：
A:配备了高分辨物镜极靴和光阑组合
B:是透射束和衍射束干涉形成的衬度
C:增大了样品台的倾转角
D:反映了晶体的周期性排列
答案:

38、单选题：
以下哪个不属于高分辨透射电子显微镜的改进方向？
选项：
A:降低球差
B:增加球差
C:配备慢扫描CCD相机
D:配备TV图像增强器
答案:

39、多选题：
利用高分辨透射电子显微技术可以获得材料的哪些信息？
选项：
A:微观结构
B:晶体缺陷
C:晶体中界面及表面的原子分布
D:微畴
答案:

40、判断题：
高分辨透射电子显微术（HRTEM）是材料分子级别显微组织结构的相位衬度显微术。
选项：
A:对
B:错
答案:

41、判断题：
高分辨显微像的衬度由透射波与衍射波的相位差决定。
选项：
A:对
B:错
答案:

第五章 单元测试

1、单选题：
SEM镜筒中聚光镜及物镜均为（）。
选项：
A:中间镜
B:投影镜
C:电磁透镜
D:分光镜
答案:

2、单选题：
EBSD菊池花样形成，是试样所激发（）电子满足布拉格方程，发生衍射效应的结果。
选项：
A:二次
B:透射
C:背散射
D:俄歇
答案:

3、判断题：
二次电子的产额随样品的倾斜度成变化，倾斜度最小，二次电子产额多。
选项：
A:对
B:错
答案:

4、判断题：
EBSD技术可广泛应用于显微组织及织构分析，其中织构可采用极图、反极图及取向分布函数描述。
选项：
A:对
B:错
答案: